芯片自动表面缺陷检测设备变更公告2

项目编号
点击查看
预算金额
点击查看
招标单位
点击查看
招标电话
点击查看
代理机构
点击查看
代理电话
点击查看

查看隐藏内容(*)需先登录

项目名称:芯片自动表面缺陷检测设备项目编号:TC***J***变更内容:(*)本项目质保期要求为:自验收合格之日起 * 年。(*)第五章 供货要求 技术部分的“***.******.***硬件结构:*)光学成像系统”要求为:*)光学成像系统:光学镜头、高精度的传感器。
查看隐藏内容